연구개발로 창출된 지식재산성과의 질적 평가 방법론 개발

특허청 , 한국지식재산연구원 지음

진한엠앤비 2015년 05월 26일 출간 국내도서 : 2014년 11월 20일 출간

작품소개

책소개

『연구개발로 창출된 지식재산성과의 질적 평가 방법론 개발』은 한국지식재산연구원에서 2010년도에 수행된 '국가 R&D 평가를 위한 특허성과 종합지표 개발' 연구와 2011년도에 수행된 '연구개발로 창출된 지식재산성과의 질적 평가 방법론 개발' 연구를 심화하여 기개발 된 정성지표를 수정 보완하고 효과적인 정성평가 방안을 도출하고자 만들어 진 책이다.

목차

제1장 개요

제 1 절 연구의 배경 및 필요성
제 2 절 연구의 목적
제 3 절 연구의 내용과 구성

제2장 국내외 연구개발 성과 평가 현황

제 1 절 해외 연구개발 성과 평가 현황
제 2 절 국내 연구개발 성과 평가 현황

제3장 국내외 특허평가 방법론

제 1 절 해외 특허평가 현황
제 2 절 국내 특허평가 현황

제4장 국가 연구개발 특허평가를 위한 질적 지표

제 1 절 개념 및 성과측정 범위
제 2 절 평가지표의 구성
제 3 절 파급성
제 4 절 실용성
제 5 절 권리성

제5장 정성평가 방법론·

제 1 절 정성평가 시행의 문제점
제 2 절 정성지표의 진단
제 3 절 정량지표의 활용

제6장 질적지표의 검증 및 분석설계

제 1 절 분석설계의 개요
제 2 절 실증분석을 위한 특허 자료의 선정
제 3 절 검증 및 분석척도

제7장 실증분석 결과

제 1 절 파급성 실증분석 결과
제 2 절 실용성 실증분석 결과
제 3 절 권리성 실증분석 결과
제 4 절 정성평가 프로세스

제8장 결론

제 1 절 연구의 요약 및 의의
제 2 절 연구의 활용방안
제 3 절 추후 연구 방향

참고문헌

[부록 1] 정성평가 지표
[부록 2] 역사적 시장규모 정량지표 산출결과
[부록 3] 기술범용성 정량지표 산출결과
[부록 4] 시장진입용이성 정량지표 산출결과
[부록 5] 권리강도 정량지표 산출결과
[부록 6] 권리범위 정량지표 산출결과

출판사 서평

본 연구의 목적을 달성하고자 국내외 연구개발사업 평가체계와 특허성과물 평가현황을 점검하였다. 먼저 2장에서는 국내외 연구개발사업 성과평가제도의 현황 및 시사점을 살펴본다. 미국의 국가 R&D 사업에 대한 평가 시스템에서 채택하고 있는 평가항목을 조사 하였으며, 일본, EU, 캐나다 등 주요국의 연구개발 프로그램의 평가체계를 살펴보았다. 그리고 국내 R&D 사업의 평가가 어떻게 수행되고 있는지를 제도적 관점에서 조사하여 특징과 문제점을 파악하고자 하였다.
제 3 장에서는 연구개발 사업의 성과물 중 본 연구에서 다루고 있는 특허에 대하여 국내외 기관의 특허기술 가치평가 방법을 검토하여 적용 및 개선 이슈를 발굴한다. NSF, Thomson Reuters, Patent Result 등 다양한 국외 기관과 기업에서 개발한 특허평가시스템과 제공 서비스의 특징을 평가지표 중심으로 살펴보고, 한국발명진흥회, 한국과학기술기획평가원 등 국내 기관의 특허평가방법에 대하여 검토하였다.
제 4 장에서는 선행연구(한국지식재산연구원, 2010)로부터 정성평가를 위한 종합지표와 간소화 지표의 구성과 내용을 확인하고, 매년 계속되어진 연구체계 내에서 본 연구의 위상 및 내용과 방법론 등을 구체화 하였다.
제 5장에서는 정성지표 개발 이후 확인된 정성평가 시행상의 문제점을 진단하고, 진단 내용을 기반으로 효율적·효과적 정성평가 시행을 위한 정성지표 개선 및 활용방안을 도출하였다. 본 내용은 전문가 대상 설문조사 결과를 중심으로 기술된다.
제 6 장에서는 도출된 정성지표 활용방안에 대한 체계적 검증 수행을 위한, 표본특허선정, 전문 평가위원 구성, 평가 방법 및 분석설계 등의 내용이 상술된다.
제 7 장에서는 전문가 정성평가 결과와 다양한 분석설계에 따른 검증 내용이 상세하게 기술된다. 그리고 분석 결과로부터 효과적인 정성평가 방법 및 효율적인 평가 프로세스를 도출하여 제시한다.
마지막으로, 본 연구의 결론에서는 연구내용을 정리하고 검증결과를 중심으로 도출된 연구의 의의와 연구결과의 중장기적 활용방안 등을 제시하였다.

작가정보

저자(글) 특허청

저자(글) 한국지식재산연구원